배출가스 5등급 차량 저공해조치 절차

나의 첫 차인 2005년식 스포티지가 5등급이란다. 이제 경유차는 타지 말라는 건가?

과태료가 10만원이라는데 이걸 피하려면 저공해 장치를 부착해야만 한다.

 

우선 신청서는 지자체 홈페이지에서 받아야 한다. 

나는 서울시에서 다운로드를 했다.

http://bluesky.seoul.go.kr/bluesky_notice/policy_all/limit_operation#view/286901?tr_code=sweb

 

정책자료실_운행제한

운행제한 - 정책자료실

bluesky.seoul.go.kr

 

희망지원서를 다운로드 받아 작성 후 서울시 차량공해저감과(02-768-8895)에 FAX로 보내면 서류 접수는 끝난다.

서울시 배출가스 5등급 차량 저공해조치 희망지원서

접수가 잘 완료되면 휴대폰 문자로 그 결과가 송부되고 그 시점 부터 언제든 운행해도 무방하다. 

다만 추후 저감장치 장착을 하라는 연락이 왔을때 장착하지 않으면 지시 불이행으로 그간 부과되지 않았던 과태료가 한꺼번에 부과되니 주의해야 한다.

 

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레고 디즈니 미니피규어2

올드 미키, 미니
엘사, 안나

@.@ 으아 디즈니 피규어라니... 

 

불투명한 비닐에 밀봉되어서 캐릭터를 보고 살수는 없었고

이마트 레고 부스 앞에서 한참을 주물럭 거려서 손 감각으로 찾아냈다.

 

집에 가져가면 아이 장난감이 되어 버리겠지. ㅠㅠ

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신뢰성 테스트

전자제품 납품시 신뢰성 테스트(Reliability Test)를 수행 후 기능 검증이 되어야 한다.

부품이 특정 시간동안 여러가지 상황(고온, 고습, 저온, 저습, 오버 전류 등등)에 노출된 이후에도 부품이 정상 동작해야 한다.

당연히 신뢰성 테스트 항목은 국제표준(www.jedec.org)에 요인한다. 


테스트 항목

  1. High Temperature Operating Life (HTOL)
    1. 참조문서: JESD22-A108
    2. This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the devices’ operating condition in an accelerated way, and is primarily for device qualification and reliability monitoring. 
  2. Temperature Humidity with Bias (THB)*
    1. 참조문서: JESD22-A101
    2. This test is performed for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solidstate devices in humid environments. It employs conditions of temperature, humidity, and bias which accelerate the penetration of moisture through the external protective material or along the interface between the external protective material and the metallic conductors which pass through it
  3. Temperature Cycle (TC)* 
    1. 참조문서: JESD22-A104
    2. This test is conducted to determine the ability of components and solder interconnects to withstand mechanical stresses induced by alternating high and low temperature extremes. Permanent changes in electrical and/or physical characteristics can result from these mechanical stresses.
  4. High Temperature Storage (HTS)
    1. 참조문서: JESD22-A103
    2. High Temperature storage test is typically used to determine the effect of time and temperature, under storage conditions, for thermally activated failure mechanisms of solid state electronic devices, including nonvolatile memory devices (data retention failure mechanisms). 
  5. Low Temperature storage (LTS) 
    1. 참조문서: EIAJ ED-4701/200
    2. Low Temperature storage test is typically used to determine the effect of time and temperature, under storage conditions, for thermally activated failure mechanisms of solid state electronic devices, including nonvolatile memory devices (data retention failure mechanisms). 
  6. Autoclave (Pressure Cooker Test : PCT)*
    1. 참조문서: JESD22-A102
    2. This test is performed to evaluate the moisture resistance integrity of non-hermetic packaged solid state devices using moisture condensing or moisture saturated steam environments. It is a highly accelerated test which employs conditions of pressure, humidity and temperature under condensing conditions to accelerate moisture penetration through the external protective material or along the interface between the external protective material and the metallic conductors passing through it.
  7. Human Body Model (HBM)
    1. 참조문서: JESD22-A114
    2. The human-body model (HBM) is the most commonly used model for characterizing the susceptibility of an electronic device to damage from electrostatic discharge (ESD). The model is a simulation of the discharge which might occur when a human touches an electronic device.
  8. Machine Model (MM)
    1. 참조문서: JESD22-A115
    2. This test is classifying microcircuits according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined electrostatic Machine Model (MM) discharge (ESD).
  9. Charged Device Model (CDM) 
    1. 참조문서: JESD22-A101
    2. The charged-device model (CDM) is a model for characterizing the susceptibility of an electronic device to damage from electrostatic discharge (ESD).
  10. Latch-up 
    1. 참조문서: JESD78
    2. This test is to evaluate latch-up characteristics for NMOS, CMOS, bipolar, and all variations and combinations of these technologies.
  11. Preconditioning Test
    1. 참조문서: JESD22-A113
* 항목은 pre-conditioning이 필요없는 항목이다.

 

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